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半导体封装专用
超精密
3D AOI

超高速,高像素
镭射扫描

可完美检测
表面反光的材质

不受物体颜色,
表面,材质影响

检测项目

SiP, Die attach, Underfill, Solder paste and Bump, Cu clip on die, IGBT 等

半导体封装专用 超精密 3D AOI

超高速,高像素镭射扫描

可完美检测 表面反光的材质

不受物体颜色, 表面,材质影响

检测项目
SiP, Die attach, Underfill, Solder paste and Bump, Cu clip on die, IGBT 等